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ストラクチャスキャン SIR-EZ
  • ストラクチャスキャン SIR-EZ

ストラクチャスキャン SIR-EZ

・電磁波レーダー方式
・最大深度45cmまでの探査を実現
・密集配筋や配管も探査可能
・探査時に自動でかぶり厚を算出、水分影響なく正確な探査深度を表示
・全深度において、自動で理想的な感度での測定・再生が可能

メーカー KEYTEC
測定項目 鉄筋探査
特長 方式:電磁波レーダー方式
かぶり深度:4~450mm
最大探査距離:20m
ディスプレイ:5.7インチTFT高精度液晶
内部記憶:約2,800m分のデータが記憶可能
外部記憶:SDカード(8GBまで対応)
電源:専用バッテリーパック
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