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デュアルタイプ膜厚計 LZ-990
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ-990

デュアルタイプ膜厚計 LZ-990

・本体とセンサ部は一体化の操作が簡単な小型膜厚計
・デュアルタイプで、素地が鉄でも非鉄でも測定できます
・素地自動判別(自動で素地を判別し、その測定モードになります)
・アプリケーションメモリ(検量線メモリ)機能搭載

メーカー ケット科学研究所
測定項目 被膜厚
特長 測定方式:電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付き)
測定対象: 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲:0~2000μm  または 0~80.0mils
測定精度:50μm未満・±1μm、50μm以上・1000μm未満・±2%、 1000μm以上2000μm未満・±3%
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