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デュアルタイプ膜厚計 LZ-900J
  • デュアルタイプ膜厚計 LZ-900J

デュアルタイプ膜厚計 LZ-900J

・本体とセンサ部は一体化の操作が簡単な小型膜厚計
・デュアルタイプで、磁性体もしくは非磁性体に施されたペイント厚やメッキおよび
 アルマイト被膜厚等の測定用

メーカー ケット科学研究所
測定項目 被膜厚
特長 測定方式:電磁・渦電流式兼用(自動判別機能付き)
測定対象: 磁性金属上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲:0~1500μm または 0~60.0mils
測定精度:50μm未満・±1μm、50μm以上・±2%
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